"State of the art" ve skenovací mikroskopii
středa 15. května 2013
Na semináři, který byl pořádán ve spolupráci s partnerem projektu fy TESCAN a.s. byli posluchači seznámeni s různými typy rastrovacích elektronových mikroskopů. Byl představen nový systém SEM/FIB, který umožňuje modifikovat povrch vzorku pomocí fokusovaného iontového svazku. V závěru semináře proběhla diskuse o možnostech využití této nové technologie v analýzách biologických materiálů.